Microscopia Elettronica a scansione ad emissione di campo (FE-SEM)

Strumentazione

Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo ZEISS SUPRA 40 VP corredato dai seguenti rivelatori:

  • Elettroni secondari " in lens SE" ad alta sensibilità
  • Elettroni secondari "in chamber SE"
  • Elettroni secondari in pressione variabile "VPSE"
  • Elettroni retro diffusi (back scattering)
Inoltre è dotato di un sistema di microanalisi a dispersione di energia (EDS, OXFORD "INCA Energie 450x3) con rivelatore a raggi X Si(Li) (elementi analizzabili dal B/Be in poi)

Applicazioni

Nella configurazione attuale, la strumentazione permette le seguenti analisi:

  • Analisi morfologica di campioni anche di grosse dimensioni sia conduttori che non conduttori con e senza metallizzazione
  • Analisi EDS qualitativa, semiquantitativa e quantitativa (previa taratura con standard analitici)

La strumentazione è particolarmente indicata per

  • Studio e la caratterizzazione di materiali biologici, polimerici, metallici, compositi.
  • Studio morfologico ed analitico dei particolati e dei materiali micro e nano dispersi. Ad esempio la strumentazione permette la valutazione e caratterizzazione morfologica e chimica delle nanoparticelle presenti in atmosfera in:
    1. ambienti di lavoro
    2. emissioni
    3. immissioni
    4. ambienti di vita.

Limitazioni per i materiali che:

  • possono contaminare le parti interne dello strumento;
  • rilasciano vapori o gas tali da ridurre il vuoto (in caso di osservazione di campioni in alto vuoto)
  • campioni di dimensioni superiori alle dimensioni della camera
Ultimo aggiornamento 24 Settembre 2015